當前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 > 全自動同質(zhì)膜厚測量系統(tǒng) > UltraFilm薄膜測量系統(tǒng)
簡要描述：系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以實現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動檢測的系統(tǒng)。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：代理商產(chǎn)品資料：更新時間：2024-11-26訪 問 量： 2406產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
薄膜電阻測量儀系統(tǒng)可以為各種材質(zhì)薄膜提供高精度的厚度均勻性測量。使用創(chuàng)新的融合光譜反射技術(shù)、近紅外干涉技術(shù)以及高亮度光源驅(qū)動的光譜橢偏儀技術(shù)的多傳感器融合測量技術(shù)，是國內(nèi)可以實現(xiàn)同質(zhì)膜厚全自動檢測的系統(tǒng)。
一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一一
*1：靜態(tài)精度或可稱為同點位多次連續(xù)測量的最大偏差值，數(shù)據(jù)為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結(jié)果
*2：多次取放測量同點位數(shù)據(jù)的最大三倍標準差值，數(shù)據(jù)為針對50um厚度雙拋玻璃片進行實驗的結(jié)果
產(chǎn)品咨詢